手持式光譜儀——常見問題解答

XRF分析儀探測什么？

手持式XRF分析儀可以探測從鎂（Mg）到鈾（U）的元素。XRF分析儀幾乎可以指向任何樣件進行檢測，并獲得準確的結(jié)果。使用分析儀完成的常見應(yīng)用包括廢料分揀、辨別、金屬制造業(yè)的質(zhì)量控制（QC）、地質(zhì)勘探、工業(yè)材料的檢測，如：水泥或煤炭等，以及消費產(chǎn)品的檢測，以發(fā)現(xiàn)漆層中的鉛或其他污染物。

手持式光譜儀有什么特點

為了方便進行野外作業(yè)，VANTA Element-S分析儀配備了不銹鋼面板和帶有Kapton網(wǎng)格背襯的Prolene窗口。野外作業(yè)過程中需要更換窗口時，無需使用工具即可輕松揭下舊窗口，貼上新窗口。同時，分析儀體型小巧，僅重1.32公斤，方便攜帶，操作便攜性堪比智能手機，大大提升了操作人員的工作效率。

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手持式光譜在鍍層測厚的應(yīng)用

要使電鍍過程具有科技的或工業(yè)的價值，需要對電鍍過程進行控制，也就是要按照一定的工藝流程和工藝要求來進行電鍍，并且還要用到某些輔助設(shè)備和管理設(shè)備。若工件中鍍層厚度不達標，則會帶來很多壞處：對于陽極性鍍層，鍍層如果過薄可能會經(jīng)不起犧牲腐蝕會先使基體產(chǎn)生銹蝕。而一個制件部分銹蝕后則已不合格。若為保證工件基體不生銹，只能加大鍍層厚度，而鍍層厚度過厚則會導(dǎo)致電鍍成本增大。