7分鐘前 平頂山EDX8000BPLUS元素分析光譜儀廠家在線咨詢 英飛思科學儀器公司[英飛思科學66089b4]內(nèi)容：能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應用了里層三個電子軌道即K，L，M上的活動情況，其中K軌道為接近核子，每個電子軌道則對應某元素一個個特定的能量層（伊諾斯合金分析儀中國服務商）。在XRF分析法中，從光發(fā)射管里出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。

蘇州英飛思科學儀器有限公司蘇州英飛思科學儀器有限公司EDX9000A結(jié)合了新的樣品激發(fā)和信號檢測技術(shù)，使得它的分析性能可以與實驗室分析結(jié)果相媲美。通過配備不同濾光片和光路準直器，高功率X射線管，以及美國Amptek的SDD硅漂移檢測器，EDX9000A實現(xiàn)了優(yōu)化的硬件組合。選擇金屬合金分析儀時，客戶通常會重點關(guān)注測試準確性，分析速度和設(shè)備耐用性，而EDX9000A是對上述三點指標的體現(xiàn)。

不需要每天標定儀器，開機即可檢測，大大提高生產(chǎn)效率，并降低了對標準樣品的依賴

?多重儀器硬件保護系統(tǒng)，并可通過軟件進行全程實時監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全

?特別設(shè)計的光路和真空系統(tǒng)提高了輕元素的測試靈敏度3-5倍(Na, Mg, Al, Si, P)

?友好的用戶界面，可定制的分析報告，可一鍵打印測試報告，包括分析結(jié)果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像

?八種光路準直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

?高清內(nèi)置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位