7分鐘前 陜西便攜式合金成分測(cè)試光譜儀詢價(jià)咨詢「英飛思科學(xué)」[英飛思科學(xué)66089b4]內(nèi)容：能量色散X螢光與波長(zhǎng)色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了里層三個(gè)電子軌道即K，L，M上的活動(dòng)情況，其中K軌道為接近核子，每個(gè)電子軌道則對(duì)應(yīng)某元素一個(gè)個(gè)特定的能量層（伊諾斯合金分析儀中國(guó)服務(wù)商）。在XRF分析法中，從光發(fā)射管里出來(lái)的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí)，原子變成了不穩(wěn)定的離子。

由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過(guò)程中，它們會(huì)釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個(gè)過(guò)程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過(guò)程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所出來(lái)的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來(lái)衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。

合金分析是鑒定樣品化學(xué)成分的過(guò)程。使用X射線熒光（XRF）光譜儀，不僅能快速確定合號(hào)PMI（ material identification），而且能準(zhǔn)確得到整個(gè)合金材料的元素組成。EDX9000A已廣泛用于各種需要合金成分分析的行業(yè)，從航空航天測(cè)試，原材料分析，質(zhì)量控制，冶煉，金屬加工，焊接，到廢料回收和快速分類篩檢等領(lǐng)域。蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司

其顯著優(yōu)勢(shì)主要有

?更快---全程無(wú)損分析，一到三分鐘即可出結(jié)果（可實(shí)時(shí)刷新測(cè)試結(jié)果）

?更準(zhǔn)---強(qiáng)大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體元素間吸收增應(yīng)，并同時(shí)考慮到不同基體對(duì)光譜強(qiáng)度變化的干擾，把測(cè)試準(zhǔn)確度提高到了新的水平

?更穩(wěn)---使用新的硅漂移檢測(cè)器SDD可得到更好的測(cè)試穩(wěn)定性和長(zhǎng)期重復(fù)性，該款檢測(cè)器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得更高的光譜強(qiáng)度（計(jì)數(shù)率CPS）。