C掃描檢測應用范圍

超聲波C 掃描技術是將 超聲檢測與微機控制和微機進行 數據采集、存貯、處理、圖像顯示集合在一起的技術。超聲波C 掃描系統使用計算機控制超聲 換能器(探頭) 位置在工件上 縱橫交替搜查,把在探傷距離特定范圍內(指工件內部) 的反射波強度作為 輝度變化并連續顯示出來,可以繪制出工件內部缺陷 橫截面圖形。這個橫截面是與超聲波聲束垂直的,即工件內部缺陷橫截面,在計算機顯示器上的縱橫坐標,分別代表工作表面的縱橫坐標。

超聲C掃描

超聲C掃描是一種用于材料科學領域的物理性能測試儀器，于2014年03月01日啟用。

超聲波C掃描是面掃描，或水平投影，是一種二維圖像，橫、縱坐標都表示時間（或距離）。

超聲波C掃描表示被檢工件的投影面的狀況，在投影面上繪出缺陷的水平投影位置，但不能給出缺陷的埋藏深度。

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超聲 C 掃描的基本原理

超聲 C 掃檢測本質上是在常規超聲 A 掃檢測基礎上利用電子深度門記錄反射回波信號，通過接收電路放大后在示波屏上顯示，當探頭對工件進行整體掃查后，即可得到工件內部缺陷或界面的俯視圖。C 掃圖像可以直接反映工件內部與聲束垂直方向上缺陷的二維形狀與分布，通過不同的顏色標示缺陷的埋藏深度。

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