2分鐘前 粗糙度檢測設(shè)備廠家價格合理「在線咨詢」[蘇州特斯特31ff5f9]內(nèi)容：雖然超聲波掃描顯微鏡與普通的光學(xué)顯微鏡有著諸多的不同點(diǎn)，但是它們也各司其職，并無優(yōu)劣之分，在不同領(lǐng)域只需要根據(jù)使用情況酌情選擇即可，由于超聲波掃描顯微鏡在線下較為少見，因此許多企業(yè)對于該種顯微鏡理解上具有局限性，所以要增加對超聲波掃描顯微鏡的詳情了解。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。設(shè)備主要來自于歐美日等先進(jìn)測試設(shè)備制造國家。

微光顯微鏡emmi檢測和emmi分析解說

通常第三方檢測實(shí)驗(yàn)室用戶對emmi檢測需要了解哪些內(nèi)容呢？首先在分析故障的時候利用微光顯微鏡，它的主要特點(diǎn)是效率非常高，主要偵測IC內(nèi)部所發(fā)射出來的光子，在檢測芯片的時候由于電子很容易擴(kuò)散到的位置。所以做emmi檢測通常是非常有必要的。它的主要優(yōu)勢就是通過產(chǎn)生亮點(diǎn)的缺陷，能夠接處毛刺從而有效的進(jìn)行分析，可以檢測不到亮點(diǎn)的情況，然后進(jìn)行排除。同時利用光誘導(dǎo)的電阻變化能夠準(zhǔn)確的，對于IC元件的短路，或者是互聯(lián)當(dāng)中所出現(xiàn)的空洞來進(jìn)行檢測，這樣才會更加的。

無損檢測技術(shù)--SAM將scanning acoustic microscope(SAM)用于IC的封裝掃描檢測，可以在不損傷封裝的情況發(fā)現(xiàn)封裝的內(nèi)部缺陷。由于在很多時候不能打開封裝來檢查，即使打開很可能原來的缺陷已經(jīng)被破壞。利用超聲波的透射、反射特性可以很好解決這個問題。超聲波在不同介質(zhì)中的傳播速率不同。