對比試樣校準原理

1. 復型測量法一種間接的測量方法，通過將可塑性材料充滿在人工缺陷內，經過凝固成型后取出，直觀、形象、逼 真地再現人工缺陷的立體形貌，取點、線、斷面采用相應精度的量具對人工缺陷長度、寬度、深度測量，獲 得人工缺陷的尺寸數據。

2. 顯微測量法直接通過讀數顯微鏡對人工缺陷放大后，以光學成像或聚焦方法瞄準邊緣輪廓或表面，通過X、Y、Z軸在缺陷上移動的距離直接測量人工槽的長度、寬度、深度及通孔的直徑。

對比試樣校準測量注意事項：

⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。

⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。

⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。

⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。

對比試樣校準分類

1.超聲波-在各種介質中的聲速是不同的，但在同一介質中聲速是一常數。超聲波在介質中傳播遇到第二種介質時會被反射，測量超聲波脈沖從發射至接收的間隔時間，即可將這間隔時間換算成厚度。在電力工業中應用較廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核工件結構尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導體收音機相近，厚度值的顯示多是數字式的。對于鋼材，較大測定厚度達2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之間。

2.磁性-在測定各種導磁材料的磁阻時，測定值會因其表面非導磁覆蓋層厚度的不同而發生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

對比試樣校準測量方法

覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中有五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有射線源，使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。